我校擬對以下設備公開招標采購,詳細技術要求見附件:
序號 |
名稱 |
數量 |
參數要求 |
可開實驗內容 |
1 |
自動薄膜測厚儀 |
1 |
SGC-10;
膜厚:20nm~50um
準確度:<1nm,波長:280~1000nm |
橢圓消光法:偏振光測量光學薄膜的折射率、厚度。 |
2 |
教學傅立葉變換光譜儀 |
1 |
CDFT-I;
波數25000~10000cm-1
分辨率:20cm-1 |
光學傅立葉變換:測定光源輻射的光譜,光譜數據的處理、分析,直觀理解傅立葉變換光學的實現與應用。 |
3 |
光柵光譜儀 |
1 |
7ISW304;
分辨率0.05、0.2nm;
波長200~1500nm;
配:光纖接收 |
基本光譜測量儀器:用于常用光源的光譜分析。 |
4 |
光電信息處理與檢測平臺 |
2 |
GDZ-1;
選配件1套:
1.DSP開發實驗,
2.51單片機開發實驗,3.AVR-JTAG仿真器 |
多個光電轉換元件:紅外光源、光敏電阻、光電池、光敏二極管特性的測量;紅外報警、直流電機測速、紅外遙控實驗。 |
5 |
晶體磁光效應實驗 |
2 |
LMG-II;
光源:635nm,P>5mw |
法拉第效應:磁致旋光,了解光隔離器、光調制器的實現原理。 |
歡迎有投標意向的廠家或商家,攜帶有關資質證明復印件和招標費用到我校國資處設備科報名。
報名截止日期:2009年12月14日下午4時
報名地點:西安工業大學未央校區行政樓501室
聯系電話:86173142
聯系人:李老師,陳老師,朱老師
西安工業大學國資處
2009年12月03日